kSA RateRat是一款紧凑式、方便易用的薄膜光学性能表征设备，主要用于实时薄膜沉积工艺控制和半透明薄膜测量。kSA RateRat采用独有的算法，通过最小二乘法对反射率曲线进行实时拟合获取薄膜光学常数。

kSA RateRat能测量厚度不小于600 Å薄膜的沉积速率、薄膜厚度和光学常数（n和k），并且根据您不同的应用和薄膜材料，提供了多种可选单元，包括不同的激光/LED波长（405、532、658、950和1050 nm），以及各种软件功能。kSA RateRat基本可与任何类型的沉积方式兼容，包括分子束外延（MBE）、金属有机化学气相沉淀（MOCVD）、溅射和脉冲激光沉积 （PLD）等。对于需要高精度沉积电介薄膜、半导体薄膜及涂层的研究实验室、工艺设备，这款工具都是必备的不二之选。

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