k-Space Associates, Inc.的产品于2001年开始进入中国市场。我们的薄膜测试技术主要集中在使用光学方法精确测量薄膜和晶片的温度、应力、曲率、曲翘度、沉积速率、反射率、光谱反射率和透射率以及反射高能电子衍射（RHEED）等方面。k-Space成立于1992年，以定制化产品开发与卓越技术支持而著称，相关技术在世界各地的科研和生产设备中已被广泛使用。通过广泛汲取客户意见并与客户群体密切合作，k-Space已经开发出了目前行业内功能最为强大的测试设备。